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影響涂層測厚儀測量值精度的各種因素
日期：2025-12-18 06:55
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摘要：
1、基質金屬磁特性
磁法厚度受基體金屬磁性變化(在實踐中,這一變化的低碳鋼磁可以被認為是一個輕微的),為了避免影響熱處理、冷加工的因素,應使用金屬試樣基體具有相同性質的標準的涂層厚度量測儀校準;
也可以用于涂層試件校準。
2、基本金屬的厚度
每一種儀器有一個臨界厚度的賤金屬。
大于厚度量測不受厚度的賤金屬。
3、賤金屬電氣性能
對…有影響的導電性基體金屬和賤金屬的電導率有關,其材料組成和熱處理。
使用金屬試樣基體具有相同性質的標準儀器校準。
4、邊緣效應,
涂層測厚儀靈敏度的陡變的標本的表層形狀。
所以靠近試樣在邊緣或角落措施是不可靠的。
5、曲率
標本的曲率影響量測。
這種影響是一直增加的曲率半徑減少明顯。
因此,在量測彎曲試樣表層是不可靠的。
6、變形的試樣
量測頭可以使軟涂層試樣變形,因此一個可靠的數據對這些標本量測。
7、表層粗糙度
基質金屬和表層粗糙度量測的涂層。
粗糙度的增加,增加的影響。
粗糙表層會引起系統誤差和隨機誤差,每次量測,應該增加數量的量測在不同的位置,克服隨機誤差。
如果矩陣金屬粗糙,還必須相似矩陣沒有涂層粗糙的金屬樣品需要幾個零位校準的涂層測厚儀;
或者沒有腐蝕到金屬基體溶液去除蓋,然后檢查了零。
8、磁場
在各種強烈的磁場所產生的電氣設備,會嚴重干擾磁性測厚的方法。
9、膠粘材料
儀器的量測頭的阻塞密切接觸涂層表層粘附材料的敏感,因此,必須轉移到材料,確保儀器量測頭和被直接接觸表層的測試。
10、量測頭的壓力
壓力強加的探針在樣品尺寸會影響量測的讀數,因此,保持壓力恒定。
11、量測頭取向
的放置探針方法量測有影響。
在量測中,應保持探針和樣品表層垂直。
磁法厚度受基體金屬磁性變化(在實踐中,這一變化的低碳鋼磁可以被認為是一個輕微的),為了避免影響熱處理、冷加工的因素,應使用金屬試樣基體具有相同性質的標準的涂層厚度量測儀校準;
也可以用于涂層試件校準。
2、基本金屬的厚度
每一種儀器有一個臨界厚度的賤金屬。
大于厚度量測不受厚度的賤金屬。
3、賤金屬電氣性能
對…有影響的導電性基體金屬和賤金屬的電導率有關,其材料組成和熱處理。
使用金屬試樣基體具有相同性質的標準儀器校準。
4、邊緣效應,
涂層測厚儀靈敏度的陡變的標本的表層形狀。
所以靠近試樣在邊緣或角落措施是不可靠的。
5、曲率
標本的曲率影響量測。
這種影響是一直增加的曲率半徑減少明顯。
因此,在量測彎曲試樣表層是不可靠的。
6、變形的試樣
量測頭可以使軟涂層試樣變形,因此一個可靠的數據對這些標本量測。
7、表層粗糙度
基質金屬和表層粗糙度量測的涂層。
粗糙度的增加,增加的影響。
粗糙表層會引起系統誤差和隨機誤差,每次量測,應該增加數量的量測在不同的位置,克服隨機誤差。
如果矩陣金屬粗糙,還必須相似矩陣沒有涂層粗糙的金屬樣品需要幾個零位校準的涂層測厚儀;
或者沒有腐蝕到金屬基體溶液去除蓋,然后檢查了零。
8、磁場
在各種強烈的磁場所產生的電氣設備,會嚴重干擾磁性測厚的方法。
9、膠粘材料
儀器的量測頭的阻塞密切接觸涂層表層粘附材料的敏感,因此,必須轉移到材料,確保儀器量測頭和被直接接觸表層的測試。
10、量測頭的壓力
壓力強加的探針在樣品尺寸會影響量測的讀數,因此,保持壓力恒定。
11、量測頭取向
的放置探針方法量測有影響。
在量測中,應保持探針和樣品表層垂直。